高低溫低氣壓試驗(yàn)箱GB/T5170.10標(biāo)準(zhǔn)介紹

   高低溫低氣壓試驗(yàn)箱GB/T5170.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備》規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。

    高低溫低氣壓試驗(yàn)箱GB/T5170.10應(yīng)用于對GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)還適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

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